1 / 5东 北 大 学 继 续 教 育 学 院现代材料测试技术 复习题 一、 选择题 1. 当 X 射线将某物质原子的 K 层电子打出后,L 层电子回迁 K 层,多余能量将另一个 L 层电子打出核外,这整个过程将产生( C )。A.特征 X 射线 B. 背反射电子 C.俄歇电子2. 吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小，吸收电子（ A）。A.越多 B.越少 C.不变3. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（B ）。A.背散射电子； B. 二次电子； C. 吸收电子； D.透射电子。4. 让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫做（ A）。 A.明场成像 B.暗场成像 C.中心暗场成像5. 透射电镜的两种主要功能是检测（ B ）。 A.表面形貌和晶体结构 B.内部组织和晶体结构 C.表面形貌和内部组织 6. 由电磁透镜磁场中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的像差，称为（ A ）。 A.球差 B.像散 C.色差7. 具有 fcc 结构晶体的（100）、（110）、（111）、（200）、（210）、（311）对课程名称: 现代材料测试技术 2 / 5应的倒易点在衍射时都有可能落在反射球面上，而晶面（ D ）将出现反射。A.（311） B.（200） C.（210） D. A 和 B。8. 有一体心立方晶体的晶格常数是 0.286nm，用铁靶 Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（ C）衍射线。A. 三条； B .四条； C. 五条； D. 六条。9. 据 Ewald 图解可知，满足衍射条件的晶面倒易点阵，必落在半径为（ A  ）的反射球面上。A. 1/入 B. 2/入 C. 1/2入 10. 下列晶面属于[ 11]晶带的是（ B ）。A.（ 1）（ 1） B.（211）（101） C.（ 01）（1 3）二、 填空题 1、布拉格公式 λ=2dsinθ 中 λ 表示（ ），d 表示（ ），θ 表示（ ）。2、利用衍射卡片鉴定物相的主要依据是（ ），参考（ ）。3、等厚条纹是衍射强度随试样( )的变化而发生周期性变化引起的，图像特征为（ ）的条纹。4、当 X 射线照射在一个晶体时，产生衍射的必要条件是（ ）,而产生衍射的充要条件是（ ） 。5、从 X 射线管射出的 X 射线谱通常包括（ ）和（ ）。6、电子探针 X 射线显微分析中常用 X 射线谱仪有（ ）和（ ）。7、俄歇电子能谱仪最适合做材料的（ ）和（ ）的成分分析。8、电子探针定性分析时是通过测定（ ）确定元素，定量分析时通过测定（ ）确定含量。课程名称: 现代材料测试技术 3 / 5填空题答案1、入射线波长，衍射（干涉）面的面间距，掠射角；2、d 值，强度；3、厚度，明暗相间；4、满足布拉格方程；同时满足结构因数不等于零；5、连续 X 射线，特征 X 射线；6、波谱仪，能谱仪；7、表面，轻元素；8、特征 X 射线波长或能量， X 射线的强度；三、判断题（A.是 B.否）1、当 X 射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续 X 射线；当 X 射线管电压超过临界电压就可以产生特征 X 射线和连续 X 射线。（ ）2、面心点阵的系统消光规律是 H+k+L 为偶数时出现反射，而 H+K+L 为奇数不出现反射。（ ）3、扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。（ ）4、随 X 射线管的电压升高,λ0和 λk都随之减小。( )5、当 X 射线照射在一个晶体时，产生衍射的必要和充分条件是必须满足布拉格方程。( )判断题答案1、A； 2、B；3、B； 4、A；5、B四、问答题1. 一钨靶 X 射线管的管电压为 30kV，计算其发射的连续 X 射线的 λ0和 λmax。λ0=1240/U管=1240/30000=0.041nm, λmax = 1.5×0.041 = 0.062nm2. α-Fe 属立方晶系，点阵参数 a=0.2866nm。如用 CrKαX 射线（λ=0.2291nm）照射，试求（110）、（200）及（211）可发生衍射的掠射角。答：α-Fe 为 体 心 立 方 晶 格 ， 故 前 三 个 衍 射 线 的 指 数 平 方 和 为 2 、 4 、 6 ， 其 指 数 为课程名称: 现代材料测试技术 4 / 5110、200 和 211，而 110 的掠射角为 34.4、200 掠射角为 52.9及 211 的掠射角为77.8 。3. 电子束入射固体样品表面会激发哪些信号? 它们有哪些特点和用途?4. 试述 X 射线衍射单相物相定性分析的步骤？答：1.测衍射花样，求 d 值，强度分五级(最强、强、中、弱、最弱)；2.按 d 值递减为序，列出全部被测物花样的 d 值；3.将数据改排，在 2θ＜90°内三强线先排，其余按强度递减跟上；4.查数字索引，按 d1 找可能卡片的小组，按 d2 找可能的卡片号；5.将可能相的卡片与被测花样数据仔细对照，最吻合者即为被测物。5.某面心立方结构物资的电子衍射花样如图示，已标出部分指数，试标出其余指数， 并求出晶带轴指数 r和晶格常数 a 。（15 分） 已知： R1= 6.5mm R2=16.4mm Lλ=3.98mm.nm 课程名称: 现代材料测试技术 5 / 5 φ =82.3° 解：指数如图所示。晶带轴为晶胞常数为6、某立方晶体的（111）面间距为 0.1506nm，并与入射 X 射线呈 26°的角度，求产生一级衍射时的 X 射线波长。解、产生一级衍射的波长为：λ=2dsinθ=2×0.1506×sin26°=0.132nm7 、 用 CuKαX 射 线 得 到 了 硅 （ fcc ） 的 衍 射 花 样 , 测 量 各 衍 射 线 条 数 据 如 下 ， CuKα=1.541Å。试标出各衍射线的干涉指数。计算各衍射线的 d 值。（15 分）序号： 1 2 3 4 5： 14.2 23.65 28.06 34.59 38.19解；衍射指数的平方和分别为 3 、8 、11、16 、19，干涉指数为 111、 220 、311 、 400 、 331 ， d （ Å ） 值 分 别 为 3.14nm 、 1.92nm 、 1.64nm 、 1.35nm、1.25nm 课程名称: 现代材料测试技术